专注功率半导体检测技术
助力第三代半导体产业发展

BONTEC semiconductor, deep ploughing power semiconductor detection technology
Take positive actions to help the development of the third generation semiconductor industry

您的位置:首页 > 解决方案 > 新能源汽车领域 > 经典案例 > 正文

应用于大连理工大学

博测功率半导体测试系统在大连理工大学应用,三代半导体SiC电子器件制造测试技术及装备、SiC半导体缺陷物理学。

应用范围

器件静态参数曲线追踪测试系统




上一篇:应用于清华大学

已经是最后一篇了

关闭