解决方案

Solutions

  • 在半导体器件向小型化、集成化、大功率、低功耗方向发展的同时,半导体器件的特性测试对测试系统也提出了越来越高的要求,,需要测试设备在大功率、低噪声、高精度和高速采集等方面提升性能,使之具备更高的电压、电流、精度、灵敏度等测试能力,能够支持测量各种功率范围的半导体器件。
  • 与传统器件检测相比,第三代半导体材料器件需要精度更高、灵敏度更高的测试产品。博电科技20多年深耕电气检测产品研发,持续研发并掌握相关核心技术,持续推进第三代半导体产业试验检测技术和设备研发制造。

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